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簡要描述:4200A-SCS 元件參數分析儀4200A-SCS加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能*電學特性參數分析儀,提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。
4200A-SCS 元件參數分析儀
親眼見證創新! 4200A-SCS 是一種可以量身定制、全面集成 的參數分析儀,可以同步查看電流電壓(I-V)、電容電壓(C-V) 和超快速脈沖式I-V 特性。作為高性能的參數分析儀, 4200A-SCS 加快了半導體、材料和工藝開發速度。
4200A-SCS ClariusTM 基于GUI 的軟件提供了清楚的、不折不 扣的測量和分析功能。憑借嵌入式測量專業知識和數百項隨時 可以投入使用的應用測試,Clarius Software 可以更深入地挖掘 研究過程,快速而又滿懷信心。
4200A-SCS 元件參數分析儀可以根據不同用戶需求進行靈活配 置,不管是現在還是未來,都可以隨時對系統進行升級。通過4200A-SCS 元件參數測試儀分析儀,通往發現之路現在變得異常簡便。
I-V 源測量單元(SMU)
± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊
100 fA測量分辨率
選配前端放大器提供了 10 aA測量分辨率
10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測量
100 μF負載電容
四象限操作
2 線或 4 線連接
C-V 多頻率電容單元(CVU)
AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)
1 kHz - 10 MHz 頻率范圍
± 30 V (60 V差分)內置DC偏置源,可以擴展到± 210 V(420 V 差分)
選配 CVIV 多通道開關,在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換脈沖式I-V 超快速脈沖測量單元(PMU)
兩個獨立的或同步的高速脈沖 I-V 源和測量通道
200 MSa/s,5 ns 采樣率
±40 V (80 V p-p),±800 mA
瞬態波形捕獲模式
任意波形發生器 Segment ARB® 模式,支持多電平脈沖波形,10 ns 可編程分辨率
高壓脈沖發生器單元(PGU)
兩個高速脈沖電壓源通道
±40 V (80 V p-p),± 800 mA
任意波形發生器 Segment ARB®模式,支持多電平脈沖波形,10 ns 可編程分辨率I-V/C-V 多通道開關模塊 (CVIV)
在 I-V測量和 C-V 測量之間簡便切換,無需重新布線或抬起探針
把 C-V測量移動到任意端子,無需重新布線或抬起探針遠程前端放大器/ 開關模塊(RPM)
在 I-V 測量、C-V 測量和超快速脈沖 I-V 測量之間自動切換
把 4225-PMU的電流靈敏度擴展到數十皮安
降低電纜電容效應
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