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簡要描述:2650系列高功率 SourceMeter®源測量元儀器專為高電壓/電流電子產品和功率半導體元件(例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件)的檢定和測試而設計。 它們提供的功率、精度、速度、靈活性、易用性,可提高研發、生產測試和可靠性環境中的效率。 兩種儀器可以提供高達 3000V 或高達 2000W 的脈沖電流
2650系列高功率 SourceMeter®源測量元儀器
2650 系列大功率 SourceMeter SMU 儀器專為高電壓/電流電子產品和功率半導體元件(例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件)的檢定和測試而設計。 它們提供的功率、精度、速度、靈活性、易用性,可提高研發、生產測試和可靠性環境中的效率。 兩種儀器可以提供高達 3000V 或高達 2000W 的脈沖電流功率。
特點
高度靈活的四象限電壓和電流源/負載,與高精度電壓表和電流表相耦合
源或阱 (2651A) 脈沖功率高達 2000W(±40V、±50A),或直流電源高達 200W(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A);輕松連接兩個器件(串聯或并聯)創建高達 ±100A 或 ±80V 的解決方案
源或阱 (2657A) 直流或脈沖功率高達 180W(±3000V@20mA、±1500V@120mA)
內置基于網絡瀏覽器的軟件
有數字化或積分測量模式可供選擇
TSP(測試腳本處理)技術
TSP-Link 通道擴展總線
兼容于 8010 型高功率設備測試夾具和 8020 型高功率接口面板
免費的測試腳本構建器軟件工具
選配的 ACS 基礎半導體元器件檢定軟件
提供相比同類產品頗具優勢的性能,具有 6? 位分辨率。
支持功率半導體、HBLED、光學設備、太陽能電池、GaN、SiC 和其他復合材料與設備的檢定/測試。應用范圍包括半導體接點溫度檢定;高速、高精度數字化;電遷移研究;以及高電流、高功率設備測試。
提供功率半導體器件檢定和測試所需的高壓,包括 GaN、SiC 及其他復合材料和器件、高達 3kV 的故障和漏電測試以及亞毫秒瞬態檢定。
支持通過任何瀏覽器、任何計算機、從世界任何地方進行遠程控制。
支持精確檢定瞬態和穩態行為,包括快速變化的熱效應。
可以與 2657A 型與 2600B 系列型號輕松地進行系統集成。
讓多臺 2651A 和 2657A 與所選 2600B 系列 SMU 儀器組合成多達 32 條通道的集成系統。
為封裝部件或晶片級高功率設備測試提供安全而方便的連接。
幫助您創建、修改、調試和存儲 TSP 測試腳本。
開發、質量檢驗或故障分析期間執行封裝部件檢定時,較大限度地提高工作效率。
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