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簡要描述:天瑞OES8000S火花全譜直讀光譜儀采用CMOS檢測器全譜測試技術,可測試覆蓋波長范圍內的所有譜線,配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧,方便維護和實驗室放置。OES8000s是測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器,可以滿足包括:Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、Mg基體、Co基體等基體要求,是金屬元素分析的較優選擇。
天瑞OES8000S火花全譜直讀光譜儀
產品說明、技術參數及配置
性能特點
火花全譜直讀光譜儀OES8000s采用CMOS檢測器全譜測試技術,可測試覆蓋波長范圍內的所有譜線,配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧,方便維護和實驗室放置。OES8000s是測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器,可以滿足包括:Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、Mg基體、Co基體等基體要求,是金屬元素分析的較優選擇。
全譜分析技術,方便配置更多基體和元素,方便在用戶現場補充配置
儀器體積小巧,對實驗室空間要求低
工作時間長,具有優異的穩定性和可靠性
樣品測試速度快,單次測試過程少于40秒
儀器使用和維護簡單、方便,對人員專業要求低
原廠安裝分析程序,測試數據準確,適用合金牌號齊全
配置標準化樣品可對儀器進行周期性校正
不使用化學試劑,測試過程安全、環保
技術優勢
天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應用于鋼鐵及有色金屬產品元素分析,快速、準確、穩定、可靠測試幾十種元素,滿足工業研發、工藝控制、進料檢驗、產品分選多方面檢驗需求,是生產金屬產品的設備。
全譜檢測測試各種金屬和元素
基于CMOS檢測器全譜測試技術,測試各種金屬中元素的譜線,方便實現多基體、多元素的測試。
配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便,方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。
國際頂級供應商提供核心部件
光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造,保證優異的光譜分辨能力
光譜檢測器——CMOS探測器由日本濱松制造,確保譜線檢測靈敏、低噪聲
光室恒溫系統
光室恒溫腔體內配置反饋式加熱裝置和隔溫層,有效保證光室內恒溫。
由此抑制溫度變化下機械件尺寸微弱變化導致的光路漂移。除特殊維護,平時保養一般不需進行描跡。
同時檢測器工作在恒溫環境有助于光電轉換性能的穩定。
快速同時分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素
將已預處理樣品置于樣品臺后,OES8000s可在至多40秒內呈現測試結果。
可根據客戶需求,測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。
專業的測試方案
長期測試技術服務的積淀,天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。
測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序,滿足用戶各類常見測試需求。
分析程序由原廠采用國際、國家標準樣品校準,經專業儀器軟件擬合、校正。
用戶只需采用原廠配置少量標準化樣品即可完成日常維護,不需購買大量制作分析程序的標準樣品。
工作條件
工作溫度:15-30℃
相對濕度:≤70%
電 源:220±5V,單相50Hz,接地電阻<1Ω
實驗室無震動、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體
天瑞OES8000S火花全譜直讀光譜儀技術性能及指標
1. 分光室設計
帕邢-龍格結構,羅蘭圓直徑400mm
波長范圍140 – 680nm
像素分辨率10pm
特殊材質鑄造,保證光室形變小
間歇式真空系統,可保證真空泵運行時間小于5%
2. 凹面光柵
刻線密度3600l/mm
光譜線色散率:1.04 nm/mm
3. 檢測器
高性能線陣CMOS
4. 分析時間
依樣品種類而不同,一般少于40秒
5. 激發光源
全數字等離子火花光源技術
高能預燃技術 (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6. 激發臺
3mm樣品臺分析間隙
噴射電極技術
特殊設計的氣路系統,保證低氬氣消耗
7. 尺寸和重量
高450mm 長900mm 寬600 mm
120 kg
8. 功率
大功率1500W
待機功率70W
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