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ZEISS/蔡司AxioImager2正置顯微鏡

  • 產品型號:
  • 更新時間:2024-11-27

簡要描述:ZEISS/蔡司AxioImager2正置顯微鏡用于高級材料研究項目,將易于操作的編碼或自動化系統引入工作流程。AxioImager2能夠在質量控制和流程控制中提供精準且可重復的結果.

產品詳情

ZEISS/蔡司AxioImager2正置顯微鏡

 

ZEISS/蔡司AxioImager2正置顯微鏡用于高級材料研究項目,將易于操作的編碼或自動化系統引入工作流程。AxioImager2能夠在質量控制和流程控制中提供精準且可重復的結果.

介紹

用于高級材料研究的顯微鏡系統

將易操作性引入顯微工作流程-AxioImager2確保在質量檢驗和流程控制中提供精準且可重復的結果。

AxioImager2擁有出色的光學鏡頭和均勻照明的特性。觀察方式和光路管理器能夠確保預設條件和重復的結果。配置了ACR功能的AxioImager.Z2m能自動檢測和選擇物鏡以及觀察方式模塊。

從四種不同的主機架中選擇您需要的系統,并借助專業解決方案擴展應用:ParticleAnalyzer、關聯顯微系統或LSM700。

特點

ZEISS/蔡司AxioImager2正置顯微鏡 

具有高對比度和分辨率的出色光學系統

模塊化主機設計,利用一系列電動和編碼組件增強靈活度

穩定的主機和無振動的工作環境能夠確保觀測結果的可重復性

使用激光共聚焦掃描顯微鏡LSM700AxioImager2進行升級

在關聯顯微系統的工作和顆粒度分析中使用AxioImager2

在質量檢驗和流程控制中,自動化功能可確保重復檢測結果的精準

觀察方式

ZEISS/蔡司AxioImager2正置顯微鏡 

觀察方式選擇

研究和檢測不同材料。分析金屬結構、復合材料、玻璃、木材和陶瓷。檢查聚合物和液晶。

多種觀察方式可供選擇,以獲得更多豐富的信息。使用反射光,在明場、暗場、微分干涉(DIC)、圓微分干涉(C-DIC)、偏光或熒光下觀察樣品。使用透射光,在明場、暗場、微分干涉(DIC)、偏光或圓偏光下檢測樣品。

觀察方式管理器能確保AxioImager2的照明設置可復制。

人體工程學設計

ZEISS/蔡司AxioImager2正置顯微鏡 

出眾的表面應用

•AxioImager.Z2mAxioImager.M2m可以在觸摸屏上顯示關鍵操作功能,使用指尖控制所有電動組件。

其他控制按鈕依照人體工程學方式排列在調焦驅動裝置周邊,可通過觸覺輕易的區分各控制按鈕。

•AxioImager.D2m5個預編程按鈕,而AxioImager.Z2m則有10個用戶自定義按鈕。

熱顯微技術

ZEISS/蔡司AxioImager2正置顯微鏡 

Linkam熱臺-靈活記錄溫度變化

您是否想研究溫度對金屬、晶體、陶瓷或塑料的影響?

結合AxioVision成像軟件和Linkam熱臺便可定制您的加熱或制冷實驗。在時間序列中顯示溫度值。每幅時間序列圖像中記錄了溫度和真空數據。例如在質量控制應用領域中觀察樣品在加熱和冷卻過程中的變化。

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