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天瑞OES 1000（火花）光電直讀光譜儀 天瑞OES 1000（火花）光電直讀光譜儀特別適用于測定黃金產品中微量元素的含量，天瑞儀器火花光電直讀光譜儀的快速測試使研發、生產過程和質量更可控，幫助客戶提升產品的技術和質量水平，使相關流程加快，為用戶創造明顯的經濟效益和環保效益。
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2024-11-11
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天瑞Gem UV-100寶玉石光譜檢測儀 天瑞Gem UV-100寶玉石光譜檢測儀基于光譜測量原理，通過不同寶玉石材料在紫外-可見-近紅外波段的光譜吸收特征，對寶玉石種屬、成因、及優化處理特征進行快速、無損檢測。整機一體化設計，內置高性能嵌入式主機及高清電容觸控屏；積分球和外置光纖探頭雙光路一鍵切，滿足不同場景、不同形狀及尺寸的樣品測試需求。
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天瑞EDX-V X射線熒光鍍層測厚儀 天瑞EDX-V X射線熒光鍍層測厚儀采用多導毛細管X射線光學系統,對于微米級尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區等部件的鍍層厚度和成分分析,能進行高效、準確的測量。
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天瑞EDX-T X射線熒光鍍層測厚儀 天瑞EDX-T X射線熒光鍍層測厚儀該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現測試部位的細節,也能呈現出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦精準分析。能更好地滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。
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天瑞EDX4500H能量色散X熒光光譜儀 天瑞EDX4500H能量色散X熒光光譜儀該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等關注的元素進行準確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
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天瑞EDX3600能量色散X熒光光譜儀 天瑞EDX3600能量色散X熒光光譜儀可準確無誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測試結果符合國標GB-1887《首飾貴金屬純度的規定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》的要求。
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天瑞EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀 天瑞EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨到。采用25mm2大面積探測器，可準確無誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量，測試結果符合國標GB/T 18043-2000要求。
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天瑞EDX600PLUS能量色散X熒光光譜儀 天瑞EDX600PLUS能量色散X熒光光譜儀是一款下照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。對工業電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行精準檢測,幫助企業準確核算成本及質量管控?？蓮V泛應用于光伏行業、五金衛浴、電子電器、航空航天、磁性材料、汽車行業、通訊行業等領域。
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